Az LSI rövid időtartamú impulzusos lézert használ, amelyet divergens lencsén vezetnek át, hogy megvilágítsa a permetminta sík keresztmetszetét. A rövid lézerimpulzus hatékonyan lefagyasztja a permetcseppeket a helyükön a képalkotás közben. A cseppek szétszórják a lézerfényt, és egy kamera, amelyet a lézerimpulzus vált ki, a cseppeket a lézersíkban képezi le. A kamera lencséjéhez sáváteresztő fényszűrő van rögzítve, amely csak a lézer hullámhosszúságú fényének engedi átjutni a CCD-érzékelőhöz, lényegében eltávolítva a síkból kifelé eső összes cseppet.
A Mie elmélet
Az LSI mérések során általában vizet használnak permetező közegként. A vízcseppek a Mie-elmélet szerint szétszórják a lézerfényt, amelynek eredményeként az egyes cseppek felülete megegyezik a megvilágítással. Az együttes átlageredmény a teljes permetfelület reprezentatív síkbeli eloszlása. Bár ez sok esetben hasonló a térfogat-eloszláshoz, gyakran permet-koncentráció-eloszlásnak nevezik, és tanulságos a magas-alacsony permet-koncentráció helyi régióinak felmérésére.
Lézeres indukált fluoreszcencia (LIF) módszer
Ahhoz, hogy az LSI műszerből térfogat-eloszlás méréseket kapjunk, a permetanyagot doppingszerrel kell kezelni. A lézeres indukált fluoreszcencia (LIF) méréseknél a festék a festékanyagot használja, amely az LSI lézer által kibocsátott fény hullámhosszának kitéve a teljes csepp fényt bocsát ki. Így a LIF módszer olyan sík permet eloszlást eredményez, amely reprezentálja a permet cseppmennyiségét.
A Mie vagy a LIF mérések során jellemzően sok pillanatnyi képet készítenek és átlagolnak együttesen annak érdekében, hogy átlagos sík permet eloszlást érjenek el.